Оборудование
Аналитический комплекс на основе сканирующего электронного микроскопа (модернизированный)

Оборудование

В ЦКП «Состав структура и свойства конструкционных и функциональных материалов» НИЦ "Курчатовский институт" - ЦНИИ КМ "Прометей"  имеется более 50 единиц современного и уникального оборудования.

Ежегодно более 100 специалистов работают с уникальным оборудованием ЦКП.

Более 50 организаций ежегодно используют оборудование ЦКП на договорной или безвозмездной основе.


Аналитический комплекс на основе сканирующего электронного микроскопа (модернизированный)

Аналитический комплекс на основе сканирующего электронного микроскопа (модернизированный)
Полное описание

LYRA 3 XMH RL

Tescan, 2017/2019

Для исследования поверхности материалов на микро- и нано- уровне, изучения формы и размеров частиц, структурных составляющих материалов, изучения элементного состава, распределения раз-личных фаз и химических элементов. Фрактографический анализ поверхностей разрушения и трения с разрешением до 2 нм, энергодисперсионный рентгеновский анализ элементного состава, исследование взаимной ориентировки структурных составляющих материалов, количественных соотношений струк-турных элементов. Возможность травления и резки материалов при помощи сфокусированного ионно-го пучка. Фазовый структурный и кристаллографический анализ методом дифракции обратно отра-жённых электронов (EBSD)
Диапазон увеличений 30 х –500000 х